電鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡(Tungsten Filament Scanning Electron Microscope,簡(jiǎn)稱W-FESEM)是一種先進(jìn)的電子顯微鏡,它通過(guò)利用電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)獲取高分辨率的表面形貌和成分信息。這種顯微鏡在材料科學(xué)、生物科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體工業(yè)以及環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。